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涂層測(cè)厚儀FI基體
涂層測(cè)厚儀鐵基標(biāo)準(zhǔn)基體F1型,用于F1探頭校零或作為基材配合標(biāo)準(zhǔn)試片使用，工作原理采用磁性法，當(dāng)測(cè)頭與校零基體接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測(cè)量變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度，以實(shí)現(xiàn)鐵基體材料上涂層測(cè)厚的目的。
適配產(chǎn)品
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涂鍍層測(cè)厚儀
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